超声波检测仪检测缺陷尺寸的评定

在实际检测中，由于自然缺陷形状、性质等是多种多样的，要通过超声波信号确定缺陷的真实尺寸还是比较困难的。目前只要是利用来自缺陷的反射波高、沿工件表面测出的缺陷延伸范围以及存在缺陷时底面回波的变化等信息，对缺陷尺寸小于声束截面时，可用缺陷回波幅度当量直接表示缺陷的大小；当缺陷大于声束截面时，幅度当量不能表示出缺陷的尺寸，则需要缺陷指示长度测定方法确定缺陷的延伸长度。

回波高度法：

根据回波高度给缺陷定量的方法称为回波高度法。回波高度法有缺陷回波高度法和底面回波高度法两种。常把回波高度法称为波高法。

缺陷回波高度法：在确定的检测条件下，缺陷的尺寸越大，反射声压越大。对于垂直线性好的仪器，声压与回波高度成正比，因此，缺陷的大小可以用缺陷回波高度来表示。

缺陷回波的高度是一种表示方法是，在调定的灵敏度下，缺陷回波峰值相对荧光屏垂直满刻度的百分比，时基线位于垂直零位时，可由垂直刻度线直接读出。另一种表示方法是用回波峰值下降或上升基准高度所需衰减或增益的分贝数来表示缺陷回波的高度，在调定的灵敏度下，回波高于基准高度记为正分贝，回波低于基准高度记为负分贝。

缺陷回波高度法在自动探伤设备或半自动化探伤设备中检测十分方便，作为判断工件十分合格的依据，通过闸门高度的设定，可以进行自动报警与记录。

底面回波高度法：当工件上、下面与入射声束垂直且缺陷反射面小于入射声束截面时，可用底面回波高度法。

当工件中有缺陷时，由于部分声能被缺陷反射，使传到底面的声能减小，从而底面回波高度比无缺陷时降低。底面回波高度降低的多少与缺陷的大小有关，缺陷越大，底面回波高度下降得越多；反之，缺陷越小，底面回波高度下降的月少。因此，可用底面回波高度来表示缺陷大小。

底面回波高度法的优点是不需要对比试块和复杂的计算，而且可利用缺陷的阴影对缺陷大小进行评介，有助于检测因缺陷形状、反射率等原因使反射信号较弱的大缺陷。底波高度的降低主要与缺陷的大小有关。