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超声波无损探伤检测中缺陷定位及计算方式

发布时间:2020/8/31 9:22:58

超声无损检测缺陷定位计算及分析

无损探伤检测设备对超声信号完成了降噪处理后,可以清晰地分辨出缺陷信息的波形,并观察波形可以发现,超声信号的缺陷信息部分为一些突变信号,并且这些突变之间不存在规律性。在进行检测时通过波形的观察,可以发现在检测时,产生的突变信号就说明该工件存在缺陷,突变越多则说明工件存在的缺陷越多。


采用超声显示中的 A 型显式,利用降噪处理后的信号对缺陷进行定位计算,我们可以根据横轴中超声波传播时间,可以推算出该缺陷在工件中的深度,即距离超声探测面的距离。当缺陷距离探测面越远时,检测相对误差越小,可以看出 1 号缺陷的相对误差最大,说明在实际检测过程中存在固定误差,当缺陷与探测面距离较近时,固定误差值占缺陷深度值较大,当缺陷与探测面距离较远时,固定误差值占缺陷深度值较小,因此相比较不同缺陷,当缺陷越深,相对误差越小。

对于存在的误差有以下几种原因:

(1)试验误差:在进行试验过程中,对于时间测量有一定的误差,因此对工件的缺陷精度定位时存在误差;(2)探头的选取:探头的频率不同,会对信号产生影响,从而造成一定的误差;

(3)降噪过程中,处理后的信号波形使计算时产生了一定程度的定位误差。


最小发射信号

在无损探伤检测中,当系统确定时,缺陷越小,反射信号越小。最小发射信号的测试,可以为定量计算提供依据,以便定量分析时,根据超声探头的灵敏度,计算缺陷的最小检测值。在检测时,由于发射电压不同导致信号幅值有所变化,在利用算法处理时,会使较弱的信号被视为噪声信号被处理,从而无法获取准确的波形信息。因此针对本课题,需要分析在不同电压下,检测信号通过算法处理能否保留有效信息。