超声波探伤成象技术说明-飞泰

超声波探伤通常以A型、B型、C型三种方法显示。近年来，随着电子技术，特别是微型电子计算机的发展，几种新型显示方法相继研究成功。

目前工业超声波探伤，广泛采用A型显示法。此方法使用简便，应用范围广，并能对缺陷定位。缺陷的尺寸则是以当量平底孔的大小来评定的。缺点是难以判断缺陷的性质、形状和分布。因此，最好能结合B型、C型显示法以助判断。

当用发射一接收型单探头探伤时，探头受电脉冲激励发出超声波，回波信号经过高频放大、检波、视频放大后输向示波管。设探头处于试样上方在C点入射，则一部份超声波从上表面反射回来，称为界面波;穿透的超声波在缺陷处反射回来，称为缺陷波;其余部份从底面反射回来，称为底波。当然也有部份超声波穿过试样。常用的三个反射信号表示在右边的荧光屏上，根据缺陷波在界面波和底波之间的相对位置，可以计算缺陷F在试样中的位置。由缺陷回波的高低可以评定它的大小，这就是A型显示:如果探头沿AB作直线扫描，则可将超声波传播时间和回波位置之间的关系显示在左边的存储示波器荧光屏上，它相当于试样在AB位置的截面图，表示缺陷F距上下表面的位置分布，这就是B型显示，把探头的这种动作方式称为B扫描。当探头在试样上方沿XY坐标逐点扫描，调节门电路，只选取上下表面之间的反射信号显示在下边的存储示波器荧光屏上，它表示在试样内部，所调节的门限范围内的缺陷在XY平面上的投影，这就是C显示，把探头的这种动作方式称为C扫描。

对于不需要知道缺陷深度分布的试样，C型显示可以直接表示缺陷的平面形状。所以可具有较好的使用价值;如航空工业中的锻件、盘、蜂窝结构、胶合件及复合材料等，均可采用此种显示方式进行检查。