T型接头相控阵全聚焦法成像检测

对于传统的相控控阵技术-S扫（扇扫）和E扫(电子扫 )，只要声束相应聚焦，就能提供横向分辨率为2～3个波长的声成像 。

用超声相控阵全聚焦法 (TFM)时，若虚拟探头用大孔径，可得分辨力为1个波长。

相控阵全聚焦法原理

全聚焦法的前提要求是全矩阵捕获(FMC)：再一个采集(探测)周期内，阵列的每一阵元均发射一个声波，即共有n个阵元相继发射。对每个发射．n个阵元中每一个阵元均接收一个A扫信号。这样，总共就有个n²个显示信号组合在一个矩阵中，矩阵横行代表发射阵元，纵列代表接收阵元。对声透射平面内的任何反射体，具有相同颜色的A显示，表示声传播(飞行)时间相同。此时，A扫描显示可作进一 步处理，以在一定关注区内创建超声图像。

T型接头相控阵扫描

对T型接头，通常最关注的重要缺陷是坡口面未熔合(腹板侧和翼板侧)、根部未焊透。超声探头置于翼板，在 组合焊缝对侧进行扫查往往是第一选择。

TFM能获得很高的横向分辨力，对关注区内每一点均可聚焦，故与反射体深度几乎尤天。单一阵元激发和接收时，扩敞角很大，故扫查范闹也很大。

TFM可用6dB降落法对缺陷定量，即使小缺陷亦如此。 像重建箅法，可用横波、也可用纵波，甚至可以考虑用不同的变型波法 。对倾斜缺陷检出率岛高。

(3)TFM能减小近表面盲区，提高信噪比。

(4)使用不同的重建算法，TFM对图像中缺陷定量有明显改进，其可取代常规波幅评定法。借助于TFM提供的平台 ，在缺陷图像显示上有优势。

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